VLSI Design and Test for Systems Dependability - 9784431568636

tej książce omówiono nową rolę, jaką VLSI (integracja obwodów półprzewodnikowych na bardzo dużą skalę) odgrywa w bezpiecznym i niezawodnym projektowaniu i działaniu systemów elektronicznych. Książka składa się z trzech części. Część I, jako ogólne wprowadzenie do tego istotnego tematu, opisuje, w jaki sposób projektuje się i testuje systemy elektroniczne, ze szczególnym naciskiem na inżynierię niezawodności, gdzie dokonuje się jednoczesnej oceny szkodliwych skutków awarii i kosztów ich powstrzymania. W tej części opisano także powiązany projekt badawczy Deliverable VLSI Systems, w który redaktor i autorzy książki byli zaangażowani przez 8 lat. Część II omawia różne zagrożenia dla niezawodności VLSI jako kluczowych komponentów systemów, w tym degradację zależną od czasu, zmiany charakterystyki urządzenia, promieniowanie jonizujące, zakłócenia elektromagnetyczne, błędy projektowe i manipulacje, wraz z omówieniem technologii przeciwdziałających tym zagrożeniom. Część III omawia technologie projektowania i testowania niezawodności w takich zastosowaniach, jak sterowanie robotami i pojazdami, przetwarzanie i przechowywanie danych w środowisku chmury oraz heterogeniczna telekomunikacja bezprzewodowa. Książka ta ma służyć jako źródło informacji dla inżynierów, którzy pracują nad projektowaniem i testowaniem systemów VLSI, ze szczególnym uwzględnieniem niezawodności. Może być również używany jako podręcznik na studiach magisterskich. Czytelnicy zainteresowani niezawodnymi systemami z perspektywy społecznej i przemysłowo-ekonomicznej również skorzystają z dyskusji prowadzonych w tej książce.