VLSI Design and Test for Systems Dependability - 9784431568636

Šajā grāmatā ir aplūkotas jaunās lomas, ko VLSI (ļoti liela mēroga pusvadītāju ķēžu integrācija) uzņemas drošai, drošai un uzticamai elektronisko sistēmu projektēšanai un darbībai. Grāmata sastāv no trim daļām. I daļā kā vispārīgs ievads šai svarīgajai tēmai ir aprakstīts, kā tiek projektētas un pārbaudītas elektroniskās sistēmas, īpašu uzsvaru liekot uz uzticamības inženieriju, kurā vienlaikus tiek novērtēts kļūmju kaitīgais iznākums un to ierobežošanas izmaksas. Šajā sadaļā aprakstīts arī saistītais pētniecības projekts Dependable VLSI Systems, kurā grāmatas redaktors un autori bija iesaistīti 8 gadus. II daļā ir aplūkoti dažādi draudi VLSI kā galveno sistēmu komponentu uzticamībai, tostarp no laika atkarīgi degradācijas, ierīces raksturlielumu izmaiņas, jonizējošs starojums, elektromagnētiskie traucējumi, projektēšanas kļūdas un manipulācijas, kā arī apspriestas tehnoloģijas šo apdraudējumu novēršanai. III daļā ir apskatītas projektēšanas un testēšanas tehnoloģijas, lai nodrošinātu uzticamību tādās lietojumprogrammās kā robotu un transportlīdzekļu vadība, datu apstrāde un uzglabāšana mākoņa vidē un neviendabīgi bezvadu telekomunikācijas. Šī grāmata ir paredzēta kā atsauce inženieriem, kuri strādā pie VLSI sistēmu projektēšanas un testēšanas, īpašu uzmanību pievēršot uzticamībai. To var izmantot arī kā mācību grāmatu absolventu kursos. Lasītāji, kurus interesē uzticamas sistēmas no sociālā un industriāli ekonomiskā viedokļa, arī gūs labumu no šīs grāmatas diskusijām.