VLSI Design and Test for Systems Dependability - 9784431568636

Selles raamatus käsitletakse uusi rolle, mida VLSI (pooljuhtahelate väga laiaulatuslik integreerimine) võtab elektrooniliste süsteemide ohutuks, turvaliseks ja töökindlaks projekteerimiseks ja toimimiseks. Raamat koosneb kolmest osast. I osas kirjeldatakse selle olulise teema üldise sissejuhatusena, kuidas elektroonilisi süsteeme kavandatakse ja testitakse, pöörates erilist tähelepanu töökindluse inseneritööle, kusjuures samaaegselt hinnatakse rikete kahjulikke tagajärgi ja nende ohjeldamise kulusid. Selles jaotises kirjeldatakse ka sellega seotud uurimisprojekti Dependable VLSI Systems, milles raamatu toimetaja ja autorid olid seotud 8 aastat. II osas käsitletakse mitmesuguseid ohte, mis ohustavad VLSI-de kui peamiste süsteemikomponentide töökindlust, sealhulgas ajast sõltuvat halvenemist, seadme omaduste erinevusi, ioniseerivat kiirgust, elektromagnetilisi häireid, projekteerimisvigu ja rikkumisi, ning arutledes nende ohtude vastu võitlemise tehnoloogiate üle. III osas käsitletakse disaini- ja katsetehnoloogiaid töökindluse tagamiseks sellistes rakendustes nagu robotite ja sõidukite juhtimine, andmetöötlus ja pilvekeskkonnas salvestamine ning heterogeenne traadita side. See raamat on mõeldud kasutamiseks viitena inseneridele, kes töötavad VLSI-süsteemide projekteerimisel ja testimisel, pöörates erilist tähelepanu töökindlusele. Seda saab kasutada õpikuna ka kraadiõppes. Selle raamatu aruteludest saavad kasu ka lugejad, kes on huvitatud töökindlatest süsteemidest sotsiaalsest ja tööstus-majanduslikust vaatenurgast.