VLSI Design and Test for Systems Dependability - 9784431568636

Šioje knygoje aptariami nauji vaidmenys, kuriuos VLSI (labai didelio masto puslaidininkinių grandinių integracija) atlieka saugiai, saugiai ir patikimai projektuojant ir eksploatuojant elektronines sistemas. Knyga susideda iš trijų dalių. I dalyje, kaip bendras įvadas į šią svarbią temą, aprašoma, kaip kuriamos ir išbandomos elektroninės sistemos, ypatingą dėmesį skiriant patikimumo inžinerijai, kai tuo pačiu metu vertinamas žalingas gedimų rezultatas ir jų izoliavimo kaina. Šioje dalyje taip pat aprašomas susijęs tyrimo projektas Patikimos VLSI sistemos, kuriame 8 metus dalyvavo knygos redaktorius ir autoriai. II dalyje aptariamos įvairios grėsmės, kylančios VLSI, kaip pagrindinių sistemos komponentų, patikimumui, įskaitant nuo laiko priklausomą pablogėjimą, įrenginio charakteristikų pokyčius, jonizuojančiąją spinduliuotę, elektromagnetinius trukdžius, projektavimo klaidas ir klastojimą, taip pat aptariamos technologijos, kaip kovoti su šiomis grėsmėmis. III dalyje išsamiai aptariamos projektavimo ir bandymo technologijos, užtikrinančios patikimumą tokiose programose kaip robotų ir transporto priemonių valdymas, duomenų apdorojimas ir saugojimas debesų aplinkoje ir nevienalytės belaidžio ryšio telekomunikacijos. Ši knyga skirta naudoti kaip nuoroda inžinieriams, kurie projektuoja ir testuoja VLSI sistemas, ypatingą dėmesį skirdami patikimumui. Jis taip pat gali būti naudojamas kaip vadovėlis magistrantūros kursuose. Skaitytojai, besidomintys patikimomis sistemomis socialiniu ir pramoniniu bei ekonominiu požiūriu, taip pat turės naudos iš šios knygos diskusijų.