Semiconductor X-Ray Detectors - 9781466554009

Materjalide osakeste (elektronid, prootonid, alfaosakesed jne) või footonitega (röntgeni- ja gammakiired) uurimisel eralduvate elementaarsete röntgenikiirte tuvastamist ja mõõtmist peetakse endiselt rutiinsete ja mittevastavate analüüside peamiseks analüütiliseks meetodiks. hävitavate materjalide analüüs. Liitiumtriivitud räni (Si(Li)) röntgenkiirguse detektor, millel on hea eraldusvõime ja tipust taustani, oli seda tüüpi elektronmikroskoopide, röntgenfluorestsentsinstrumentide ning radioaktiivsetel allikatel ja kiirenditel põhinevate ergastussüsteemide analüüsimisel pioneeriks. Kuigi kiire areng räni triividetektorite (SDD), laenguga sidestatud seadmete (CCD) ja liitpooljuhtdetektorite vallas, sealhulgas taastuv huvi alternatiivsete materjalide, nagu CdZnTe ja teemant vastu, on muutnud Si(Li) röntgenikiirguse detektori peaaegu iganenuks, seade toimib kasuliku võrdlusalusena ja seda kasutatakse ikka erijuhtudel, kui selle suur ja tundlik sügavus on hädavajalik. Pooljuhtröntgenidetektorid keskenduvad Si(Li) röntgenkiirguse detektorite ajaloole ja arengule, mis on oluline täiendus teadmistele, mis on nüüd vajalikud SDD-de, CCD-de ja liitpooljuhtdetektorite töö täielikuks mõistmiseks. Raamat annab ajakohase ülevaate pooljuhtröntgenidetektorite põhimõtetest, praktilistest rakendustest ja tehnika tasemest. See kirjeldab paljusid pooljuhtide abil röntgentuvastuse ja mõõtmise tahke, alates valmistamisest kuni rakendamiseni. Esialgsetes peatükkides esitatakse iseseisev kokkuvõte asjakohastest taustafüüsika, materjaliteaduse ja inseneriaspektidest. Hilisemates peatükkides võrreldakse ja vastandatakse praegu kasutatavate süsteemide ja materjalide kooste- ja füüsikalisi omadusi, võimaldades lugejatel materjale ja rakendusalasid täielikult mõista.