Semiconductor X-Ray Detectors - 9781466554009

Elementarių rentgeno spindulių, išsiskiriančių, kai medžiagos tiriamos su dalelėmis (elektronais, protonais, alfa dalelėmis ir kt.) arba fotonais (rentgeno ir gama spinduliais), identifikavimas ir matavimas vis dar laikomas pagrindiniu įprastiniu ir nenaudojamu analitiniu metodu. destruktyvių medžiagų analizė. Ličio dreifuoto silicio (Si(Li)) rentgeno spindulių detektorius, pasižymintis gera skiriamąja geba ir smailėmis iki fono, buvo šio tipo elektroninių mikroskopų, rentgeno fluorescencijos prietaisų ir radioaktyviųjų šaltinių bei greitintuvų sužadinimo sistemų analizės pradininkas. Nors dėl spartaus silicio dreifo detektorių (SDD), įkrovimo prijungtų įrenginių (CCD) ir sudėtinių puslaidininkių detektorių pažangos, įskaitant atsinaujinusį susidomėjimą alternatyviomis medžiagomis, tokiomis kaip CdZnTe ir deimantas, Si (Li) rentgeno detektorius beveik paseno, prietaisas yra naudingas etalonas ir vis dar naudojamas ypatingais atvejais, kai jo didelis jautrus gylis yra būtinas. Puslaidininkiniai rentgeno detektoriai daugiausia dėmesio skiria Si(Li) rentgeno detektorių istorijai ir raidai – tai svarbus papildymas žinioms, kurių dabar reikia norint visapusiškai suprasti SDD, CCD ir sudėtinių puslaidininkinių detektorių veikimą. Knygoje pateikiama naujausia puslaidininkinių rentgeno detektorių principų, praktinio pritaikymo ir naujausių technologijų apžvalga. Jame aprašomi daugelis rentgeno spindulių aptikimo ir matavimo naudojant puslaidininkius aspektų, nuo gamybos iki įgyvendinimo. Pradiniuose skyriuose pateikiama savarankiška atitinkamų fono fizikos, medžiagų mokslo ir inžinerijos aspektų santrauka. Vėlesniuose skyriuose palyginamos ir kontrastuojamos šiuo metu naudojamų sistemų ir medžiagų surinkimo ir fizinės savybės, todėl skaitytojai gali visiškai suprasti medžiagas ir taikymo sritį.