Radiation Effects in Semiconductors - 9781439826942

Kosmoserakendused, tuumafüüsika, sõjalised operatsioonid, meditsiiniline pildistamine ja eriti elektroonika (kaasaegne räni töötlemine) on ilmsed valdkonnad, kus kiirguskahjustused võivad põhjustada tõsiseid tagajärgi, st MOS-seadmete ja vooluahelate halvenemist. Selle laia ja keeruka teema oluliste aspektide nullimisel käsitleb kiirgusefektid pooljuhtides üha kasvavat vajadust selgelt mõista pooljuhtseadmetele ja -ahelatele avalduva kiirguse mõju, et võidelda võimalike kahjustustega, mida see võib põhjustada. Sisaldab peatükki, mille autoriks on tunnustatud kiirgusamet Lawrence T. Clark, teemal Disainitud SRAM-i strateegiad TID ja SEE leevendamiseks. See raamat analüüsib kiirgusprobleemi, keskendudes kõige olulisematele aspektidele, mis on vajalikud pooljuhtseadmetes, ahelates, ja süsteemid, kui neid kiiritatakse. See uurib, kuidas kiirgus interakteerub tahkete materjalidega, pakkudes üksikasjalikku analüüsi selle kolme viisi kohta: fotoelektriline efekt, Comptoni efekt ja elektron-positroni paaride loomine. Autor selgitab, et nende kolme efekti ilmnemise tõenäosus sõltub langeva footoni energiast ja sihtmärgi aatomnumbrist. Raamatus käsitletakse ka mõjusid, mida footonid võivad ainele avaldada – ionisatsiooniefektide ja tuumanihke osas. See hoolikalt koostatud viide selgitab, kuidas ioniseeriv kiirgus on mõeldud kraadiõppega tegelevatele teadlastele, pooljuhtide inseneridele ning tuuma- ja kosmoseinseneridele, kellel on teatav elektroonikaalane taust. tekitab kahjustusi pooljuhtseadmetes, ahelates ja süsteemides – ning kuidas seda kahju saab vältida sellistes valdkondades nagu sõjalised/kosmosemissioonid, tuumarakendused, plasmakahjustused ja röntgenikiirgusel põhinevad tehnikad. Sellel on tipptasemel rahvusvahelised tööstuse ja akadeemiliste ringkondade eksperdid, kes käsitlevad esilekerkivaid detektoritehnoloogiaid, vooluahela projekteerimise tehnikaid, uusi materjale ja uuenduslikke süsteemilähenemisi.