Elastic and Inelastic Scattering in Electron Diffraction and ... - 9780306449291

Rozpraszanie elastyczne i nieelastyczne w transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM) to ważne tematy badawcze. Od dawna chciałem systematycznie podsumowywać różne teorie dynamiczne związane z ilościową kopią mikroelektronów elektronowych i ich zastosowaniem w symulacjach wzorów i obrazów dyfrakcji elektronów. To życzenie staje się teraz rzeczywistością. Celem tej książki jest zbadanie fizyki w dyfrakcji i obrazowaniu elektronów oraz powiązanych zastosowań do charakteryzacji materiałów. Szczególny nacisk położony jest na dyfrakcję i obrazowanie nieelastycznie rozproszonych elektronów, które, jak sądzę, nie zostały szerzej omówione w istniejących książkach. W tej książce zakłada się, że czytelnicy mają pewną wiedzę na temat mikroskopii elektronowej, dyfrakcji elektronów i mechaniki kwantowej. Przewiduję, że książka ta będzie przewodnikiem po zjawiskach obserwowanych w mikroskopii elektronowej z perspektywy fizyki dyfrakcyjnej. W całej książce stosowane są jednostki SI, z wyjątkiem angstremów (A), które są używane sporadycznie dla wygody. Aby zmniejszyć liczbę używanych symboli, na przykład transformata Fouriera funkcji przestrzeni rzeczywistej P'(r) jest oznaczona tym samym symbolem P'(u) w przestrzeni odwrotnej, z tą różnicą, że r jest zastąpione przez u. Górne i dolne granice całki w książce to (-co, co), chyba że określono inaczej. Granice całkowe (-co, co) są zwykle pomijane w wyrażeniach matematycznych dla uproszczenia. Bardzo doceniam możliwość współpracy z dr. JM Cowley i JCH Spence (Uniwersytet Stanowy w Arizonie), J.