Elastic and Inelastic Scattering in Electron Diffraction and ... - 9780306449291

Elastne ja mitteelastne hajumine ülekandeelektronmikroskoopias (TEM) on olulised uurimisobjektid. Olen pikka aega soovinud süstemaatiliselt kokku võtta erinevad dünaamilised teooriad, mis on seotud kvantitatiivse elektronmikrokoopiaga ja nende rakendustega elektronide difraktsioonimustrite ja kujutiste simulatsioonides. See soov saab nüüd reaalsuseks. Selle raamatu eesmärk on uurida elektronide difraktsiooni ja pildistamise füüsikat ning sellega seotud rakendusi materjalide iseloomustamiseks. Erilist rõhku pannakse difraktsioonile ja mitteelastselt hajutatud elektronide pildistamisele, mida minu arvates ei ole olemasolevates raamatutes laialdaselt käsitletud. See raamat eeldab, et lugejatel on teatud eelteadmised elektronmikroskoopia, elektronide difraktsiooni ja kvantmehaanika kohta. Eeldan, et see raamat on juhend, kuidas läheneda elektronmikroskoopias vaadeldavatele nähtustele difraktsioonifüüsika väljavaadetest. SI-ühikuid kasutatakse kogu raamatus, välja arvatud angström (A), mida mugavuse huvides kasutatakse aeg-ajalt. Kasutatavate sümbolite arvu vähendamiseks tähistatakse näiteks reaalruumifunktsiooni P'(r) Fourier' teisendust pöördruumis sama sümboliga P'(u), välja arvatud see, et r asendatakse u-ga. Integraali ülem- ja alumine piirväärtus raamatus on (-co, co), kui pole teisiti märgitud. (-co, co) integraali piirid jäetakse matemaatilises avaldises lihtsuse huvides tavaliselt välja. Hindan väga võimalust töötada koos Dr. JM Cowley ja JCH Spence (Arizona osariigi ülikool), J.