Atom Probe Microscopy - 9781489989390

Aatomisondi mikroskoopia võimaldab iseloomustada materjalide struktuuri ja keemiat kolmes mõõtmes aatomilähedase eraldusvõimega. Seda ainulaadselt võimsat tehnikat on viimase kümnendi jooksul tehtud suuri instrumentaalseid edusamme, kuna on välja töötatud laia vaateväljaga detektorid ja impulsslaseriga aurustamine, mis on instrumendi võimeid märkimisväärselt suurendanud. Valdkond õitseb ja aatomisondi mikroskoopiat peetakse peavoolu iseloomustustehnikaks. See raamat hõlmab kõiki aatomisondi mikroskoopia tahke, sealhulgas väljaioonmikroskoopiat, väljadesorptsioonimikroskoopiat ja suurt rõhku aatomisondide tomograafial. Atom Probe Microscopy on suunatud kõikidele kogemustasemetele teadlastele. See annab algajale teoreetilise tausta ja praktilise teabe, mis on vajalik materjalide toimimise uurimiseks, kasutades aatomisondi mikroskoopia tehnikaid. See sisaldab üksikasjalikke selgitusi põhialuste ja instrumentide kohta, kaasaegseid proovide ettevalmistamise tehnikaid, eksperimentaalseid üksikasju ja ülevaadet saadavatest tulemustest. Raamat rõhutab andmete kvaliteedi hindamise protsesse ja täiustatud andmekaeve algoritmide nõuetekohast rakendamist. Need, kes on selles tehnikas kogenumad, saavad kasu raamatust kui ühest terviklikust asendamatu viiteteabe, tabelite ja tehnikate allikast. Nii algajad kui ka asjatundjad hindavad viisi, kuidas Atom Probe Microscopy on materjaliteaduse ja inseneriteaduse kontekstis esitatud ning sisaldab viiteid peamistele hiljutistele uurimistulemustele.