Atom Probe Microscopy - 9781489989390

Atomu zondes mikroskopija ļauj raksturot materiālu struktūru un ķīmiju trīs dimensijās ar gandrīz atomu izšķirtspēju. Šī unikāli jaudīgā tehnika pēdējo desmit gadu laikā ir bijusi pakļauta lieliem instrumentālajiem sasniegumiem, attīstot plaša redzes lauka detektorus un iztvaikošanu ar impulsa lāzeru, kas ir ievērojami uzlabojuši instrumenta iespējas. Lauks plaukst, un atomu zondes mikroskopija tiek pieņemta kā galvenā raksturošanas tehnika. Šī grāmata aptver visus atomu zondes mikroskopijas aspektus, tostarp lauka jonu mikroskopiju, lauka desorbcijas mikroskopiju un lielu uzsvaru uz atomu zondes tomogrāfiju. Atomu zondes mikroskopija ir paredzēta visu pieredzes līmeņu pētniekiem. Tas iesācējiem sniegs teorētisko pamatojumu un praktisko informāciju, kas nepieciešama, lai izpētītu, kā materiāli darbojas, izmantojot atomzondes mikroskopijas metodes. Tas ietver detalizētus pamatu un instrumentu skaidrojumus, mūsdienu paraugu sagatavošanas metodes, eksperimentālās detaļas un iegūstamo rezultātu pārskatu. Grāmatā ir uzsvērti datu kvalitātes novērtēšanas procesi un uzlaboto datu ieguves algoritmu pareiza ieviešana. Tie, kuriem ir lielāka pieredze šajā tehnikā, gūs labumu no grāmatas kā vienota, visaptveroša neaizstājamas atsauces informācijas, tabulu un paņēmienu avota. Gan iesācējs, gan eksperts novērtēs veidu, kā Atom Probe Microscopy ir izklāstīts materiālu zinātnes un inženierijas kontekstā, un ietver atsauces uz galvenajiem jaunākajiem pētījumu rezultātiem.