Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization - 9783540434436

Ewolucja naszego zrozumienia większości właściwości nowych materiałów funkcjonalnych jest powiązana z naszą wiedzą o ich strukturze w skali atomowej. Aby to osiągnąć, stosuje się kilka technik rentgenowskich i neutronowych. Metoda anomalnego rozpraszania promieni rentgenowskich (AXS), wykorzystująca tzw. efekt anomalnej dyspersji w pobliżu krawędzi absorpcji pierwiastka składowego, jest jedną z najskuteczniejszych metod określania dokładnych funkcji struktury cząstkowej poszczególnych par składników lub parametrów środowiska funkcje wokół określonych elementów w układach wieloskładnikowych. AXS jest przydatny zarówno w układach krystalicznych, jak i niekrystalicznych, do badań materiałów powierzchniowych i sypkich. Niniejsza książka jest pierwszą książką dotyczącą tej nowej metody charakteryzacji strukturalnej. Opisano podstawy i zasady stosowania, a także omówiono specyfikę stosowania do ciekłych stopów, cieczy przechłodzonych, roztworów, szkieł metalicznych, szkieł tlenkowych, nadprzewodzących szkieł jonowych itp.