Noncontact Atomic Force Microscopy - 9783642014949

Od czasu pierwotnej publikacji Bezkontaktowej mikroskopii sił atomowych w 2002 r., bezkontaktowy mikroskop sił atomowych (NC-AFM) osiągnął niezwykły postęp. Ta druga metoda leczenia dotyczy następujących znakomitych wyników uzyskanych od tego czasu z rozdzielczością atomową: spektroskopia sił i mapowanie z rozdzielczością atomową, kamerton, manipulacja atomowa, mikroskopia sił wymiany magnetycznej, obrazowanie atomowe i molekularne w cieczach oraz inne nowe technologie. Te wyniki i technologie pomagają obecnie rozwijać NC-AFM w kierunku praktycznych narzędzi do charakteryzowania i manipulacji pojedynczymi atomami/cząsteczkami i nanostrukturami z rozdzielczością atomową/subatomową. Dlatego też książka stanowi przykład tego, jak NC-AFM stało się kluczowym narzędziem w rozwijających się dziedzinach nanonauki i nanotechnologii.