High Energy Electron Diffraction and Microscopy - 9780198500742

See raamat annab lugejale põhjaliku sissejuhatuse suure energiaga elektronide difraktsiooni ning suure energiaga elektronide elastse ja mitteelastse hajumise kohta, pöörates erilist tähelepanu kaasaegse elektronmikroskoopia rakendustele. Alustades fundamentaalnähtuste uuringust, tutvustavad autorid kõige olulisemaid mõisteid, mis on tänapäevase arusaama aluseks kõrge energiaga elektronide difraktsioonist. Dünaamilist difraktsiooni ülekande (THEED) ja peegelduse (RHEED) geomeetrias käsitletakse üldise maatriksiteooria abil, kus mõistete illustreerimiseks ja praktiliste rakendustega tutvustamiseks on toodud arvutiprogrammid ja töödeldud näited. Hajusa ja mitteelastse hajumise ja koherentsuse efekte käsitletakse terviklikult nii elastse hajumise häirena kui ka tihedusmaatriksi meetodi üldises mitmekordse hajumise kvantmehaanilises raamistikus. Esiletõstetud teemade hulgas on elektronide resonantsdifraktsiooni käsitlemine, HOLZ-i difraktsioon, Kikuchi ribade ja joonte ning rõngamustri moodustamine ning difraktsiooni rakendamine kasvavate pindade jälgimisel. Kasulikud praktilised andmed on kokku võetud tabelites, mis hõlmavad kõigi neutraalsete aatomite ja paljude ioonide elektronide hajumise tegureid ning temperatuurist sõltuvaid Debye-Walleri tegureid, mis on antud enam kui 100 elementaarkristalli ja -ühendi kohta.