High-Resolution XAS/XES - 9781466592988

Fotonų ir fotonų išorėje šerdies lygio spektroskopija yra naujas metodas katalizatorių ir fermentų elektroninei struktūrai apibūdinti, ir ji yra įdiegta arba planuojama intensyvių sinchrotroninių pluoštų linijoms ir rentgeno laisvųjų elektronų lazeriams. Šio tipo spektroskopijai reikalinga didelės energijos skiriamosios gebos spektroskopija ne tik įeinančiam rentgeno spinduliui, bet ir daugeliu atvejų išeinantiems fotonams aptikti. Taigi, privaloma naudoti didelės skiriamosios gebos rentgeno kristalų spektrometrus, kurių skiriamoji geba E/E paprastai yra apie 10–4. Didelės skiriamosios gebos XAS/XES: elektroninių katalizatorių struktūrų analizė apima naujausius rentgeno šviesos šaltinių, detektorių, kristalų spektrometrų ir fotonų į fotoną išorę šerdies lygio spektroskopijos metodus. Jame taip pat aptariamos fotonų į fotoną išorėje šerdies lygio spektroskopijos taikymas katalizinėms sistemoms tirti, pabrėžiant sunkius rentgeno matavimus pirmiausia dėl didelio zondo įsiskverbimo, todėl galima atlikti in situ tyrimus. Ši pirmoji tokio pobūdžio knyga: Aptaria didelės skiriamosios gebos rentgeno spinduliuotės spektroskopiją (XES) ir rentgeno spindulių sugerties spektroskopiją (XAS) laiko skiriamosios gebos ir paviršiaus pagerinimo požiūriu. Suteikia supratimą apie katalizinį reaktyvumą, būtiną norint pasinaudoti branduolio lygio rentgeno spektroskopija ketvirtos kartos šviesos šaltiniuose (XFEL) Aprašomi visi spektrometrai, sukurti pagrindinio lygio rentgeno spindulių spektroskopijai atlikti, atsižvelgiant į kiekvieno metodo privalumus ir trūkumus. Išsami informacija, siekiant išsiaiškinti katalizatorių aspektus darbo sąlygomis, pvz. ir molekulių adsorbcija Supažindina su teoriniais spektrų skaičiavimais ir tiria biologinius bei heterogeninius katalizatorius. Pateikiamos rekomendacijos ir įspėjimai, kaip naudoti šio tipo spektroskopiją, didelės raiškos XAS/XES: elektroninių katalizatorių struktūrų analizė suteikia išsamią dabartinės būsenos apžvalgą. šioje įdomioje srityje.